Ostatnia aktualizacja: 5 stycznia 2013 przez: dr inż. Magdalena Ziąbka;

Oferta dla przemysłu/jednostek badawczo-rozwojowych:


Wysokorozdzielcze badania mikrostruktury materiałów przewodzących, nieprzewodzących i podatnych na kontaminację w wysokiej i niskiej próżni, przy wysokich i niskich napięciach  przyspieszających.

Możliwość obserwacji powierzchni materiałów w systemie detekcji elektronów  wtórnych (SE) i elektronów wstecznie rozproszonych (BSE). Zdolnośd rozdzielcza do 2 nm,  powiększenia 70 – 500 000x. Badania mikrostruktury materiałów proszkowych, świeżych przełamów i zgładów.

Analizy chemiczne pierwiastków w próbkach począwszy od boru do końca układu okresowego. Możliwość wykonywania analizy ilościowej pierwiastkowej i tlenkowej; rozkład pierwiastków w mikroobszarach („mapping”), a także analizy liniowe.

Ostatnia aktualizacja: 11 stycznia 2013 przez: dr inż. Magdalena Ziąbka;
  • Zdjęcie: 
               NOVA NANO SEM 200

    NOVA NANO SEM 200

    Lokalizacja urządzenia:

    Osoby odpowiedzialne za urządzenie
    Zobacz zdjęcia urządzenia
    Opis urządzenia

    Ultra wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem z emisją polową (FEG
    – emiter SCHOTKYEGO) – NOVA NANO SEM 200 (producent FEI EUROPE COMPANY) współpracujący
    z analizatorem EDS firmy EDAX

    Ostatnia aktualizacja: 5 stycznia 2013 przez: dr inż. Magdalena Ziąbka;

     do góry

  • Zdjęcie: 
               JEOL JSM 5400

    JEOL JSM 5400

    Lokalizacja urządzenia:

    Osoby odpowiedzialne za urządzenie
    Zobacz zdjęcia urządzenia
    Opis urządzenia
    Skaningowy mikroskop elektronowy JEOL  JSM 5400 współpracujący z mikroanalizatorem rentgenowskim  EDS, LINK ISIS  300 firmy Oxford Instrument. Ostatnia aktualizacja: 11 stycznia 2013 przez: dr inż. Magdalena Ziąbka;

     do góry