Ostatnia aktualizacja: 16 marca 2021 przez: dr hab. inż. Magdalena Ziąbka, prof. AGH;
Ostatnia aktualizacja: 11 stycznia 2013 przez: dr hab. inż. Magdalena Ziąbka, prof. AGH; Oferta dla przemysłu/jednostek badawczo-rozwojowych:
Wysokorozdzielcze badania mikrostruktury materiałów przewodzących, nieprzewodzących i podatnych na kontaminację w wysokiej i niskiej próżni, przy wysokich i niskich napięciach przyspieszających.Możliwość obserwacji powierzchni materiałów w systemie detekcji elektronów wtórnych (SE) i elektronów wstecznie rozproszonych (BSE). Zdolnośd rozdzielcza do 2 nm, powiększenia 70 – 500 000x. Badania mikrostruktury materiałów proszkowych, świeżych przełamów i zgładów.
Analizy chemiczne pierwiastków w próbkach począwszy od boru do końca układu okresowego. Możliwość wykonywania analizy ilościowej pierwiastkowej i tlenkowej; rozkład pierwiastków w mikroobszarach („mapping”), a także analizy liniowe.
Lokalizacja urządzenia:
Ultra wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem z emisją polową (FEG
Ostatnia aktualizacja: 5 stycznia 2013 przez: dr hab. inż. Magdalena Ziąbka, prof. AGH;
– emiter SCHOTKYEGO) – NOVA NANO SEM 200 (producent FEI EUROPE COMPANY) współpracujący
z analizatorem EDS firmy EDAX
Lokalizacja urządzenia:
Skaningowy mikroskop elektronowy JEOL JSM 5400 współpracujący z mikroanalizatorem rentgenowskim EDS, LINK ISIS 300 firmy Oxford Instrument. Ostatnia aktualizacja: 11 stycznia 2013 przez: dr hab. inż. Magdalena Ziąbka, prof. AGH;